第662章 八十纳米芯片良品率再次提升到68%!

祁同伟的目光缓缓扫过监控墙上每一个绿色“就绪”的指示灯,

扫过控制室内每一张紧张而期待的脸。

三个月,从一片荒滩到这座深埋地下的现代化“芯片神庙”,无数人付出了难以想象的努力。

今天,是检验这一切的最终时刻。

“目标产品?”他问。

“八十纳米通用逻辑工艺试产芯片,设计代号‘盘古-1A’。

结构相对简单,主要用于验证全线工艺稳定性和良品率基线。”技术负责人回答。

“启动吧。”祁同伟的声音不高,却像按下了命运的开关。

命令下达。

“物料系统启动,首批硅片上料!”

“扩散炉启动,进行初始氧化……”

“光刻一组准备,掩模版确认,开始首层光刻……”

低沉而富有韵律的机械运转声,通过传感器隐约传来。

监控屏幕上,代表硅片(Wafer)的载体开始在自动化天车的搬运下,

沿着预定的路径,流入第一道工序。

光刻机的紫外灯光透过掩模,在涂有光刻胶的硅片上投射出微小的图形;

刻蚀机的等离子体辉光泛起,精确地去除未被保护的材料;

离子注入机将掺杂原子打入硅晶格;高温炉进行退火激活……

每一个步骤,都牵动着控制室内所有人的心。

数据在屏幕上飞快刷新,工程师们紧盯着自己负责的模块,不时低声交流、调整参数。

祁同伟站在总控台前,目光如鹰隼般锐利。

他看的不是单一数据,

而是整个生产流的节奏匹配、各设备状态的协同、以及任何可能预示潜在风险的细微波动。

时间在无声的流淌中过去。

八小时,十六小时,二十四小时……

首批二十五片晶圆,如同经历漫长旅途的朝圣者,依次通过了上百道工序的洗礼,

最终完成了全部前端和后端工艺,进入最终的电学测试环节。

晶圆被送入自动测试机。

尖锐的探针卡精准地扎在每一颗芯片的焊盘上,施加测试向量,读取响应。