第645章 祁!你回来了!太好了!

祁同伟主动伸出手,与他紧紧握在一起。

他能感觉到对方手掌的微凉和一丝不易察觉的颤抖,那是长时间高强度精神集中的结果。

“我刚下飞机。情况怎么样?”

“数据流已经确认被晶圆厂完整接收,并开始预处理。”

罗斯塔姆的语速很快,带着学者特有的精确,

“根据对方反馈的流程单(Run Card),第一批次(Lot)二十片晶圆,已经进入正式流片队列。

预计……”

他看了一眼腕表,

“72小时后,完成全部前端(FEOL)工序;

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120小时后,完成后端(BEOL)金属互联;

144小时后,完成划片(Dicing)和初步封装,第一批裸片就可以空运回来进行初测(CP)。”

他顿了顿,补充道:

“当然,这是理想情况,不考虑任何设备故障或工艺异常。

我已经要求对方在每个关键工艺节点后,都进行一次中间测试数据的抽样反馈,

虽然会稍微拖慢进度,但有助于我们尽早发现潜在问题。”

祁同伟点点头,这个安排很稳妥。

“模型的最新仿真结果如何?”

提到模型,罗斯塔姆的眼睛更亮了,仿佛瞬间驱散了疲惫:

“非常好!我们基于最新的设备校准数据和材料参数,

对‘涅盘-1’的完整制造流程进行了超过十万次蒙特卡洛仿真。

在考虑了所有已知的工艺波动范围后,预测的良品率(Yield)中心值在65%到72%之间!

这比我们之前任何一次模拟的结果都要高得多!

而且,最关键的几个性能参数——速度、功耗、漏电——的分布也都完全落在设计规格之内!”

65%到72%的良品率!

对于首次流片、且是采用全新设计理念和工艺整合方案的芯片来说,

这简直是梦幻般的数字!

要知道,之前那次失败的流片,良品率是接近于零........